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Agenda - National Instruments Germany GmbH

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AGENDA | VIP 2014 – Virtuelle Instrumente in der Praxis
22. Oktober 2014
9:30 – 10:30
10:30 – 11:00
Begrüßung:
Keynote:
Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, National Instruments
Owen Golden, Vice President Global Energy Segment, National Instruments
Jean-Christoph Heyne, Vice President Asset Management Solutions, Siemens AG, Sektor Energy
Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
LabVIEW Power Programming
(Stadtsaal)
Test & Measurement
(Kleine Saal)
Verification & Validation
(Saal 1)
Einführung in LabVIEW
OOP l
Stefan Kissel, National
Instruments Germany GmbH
Introduction to Modular
Instrumentation
Travis White, National Instruments
Corp.
Messung des Bremsver­
haltens eines 2 km langen
Güterzuges im stationären
Prüfstand
Laurent Chatard, Konrad GmbH,
Jörg Koch, Knorr Bremse AG
Wo sind die Requirements
hin?
Jürgen Dodek, MTU
Friedrichshafen GmbH
Validation & Verification von
A bis Z
Andreas Stark, National
Instruments Germany GmbH
12:00 – 12:30
Actor Framework – Explained
Oliver Wachno, Bürkert Werke
GmbH
Processor-in-the-Loop (PIL)
für leistungselektronische
Systeme
Jens Bielefeldt, KOSTAL Industrie
Elektrik GmbH
12:30 – 13:00
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Kraft, Druck und Beschleu­
nigung messen mit piezo­
elektrischen Sensoren und
LabVIEW
Martin Stierli, Kistler Instrumente
AG
Datenerfassungssystem des
Vierquadranten-Stromrichters
für die Plasma-Lageregelung
von ASDEX Upgrade
Alexander Sigalov, Claus-Peter
Käsemann, Horst Eixenberger,
Max-Planck-Institut für
Plasmaphysik
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
11:00 – 11:30
11:30 – 12:00
13:00 – 14:00
14:00 – 14:30
14:30 – 15:00
Actor Framework – in Action
Oliver Wachno, Bürkert Werke
GmbH
UI Design – Ideen, Konzepte,
Anregungen
Wolfgang Zwick, National
Instruments Germany GmbH
15:00 – 15:30
15:30 – 16:00
16:00 – 16:30
16:30 – 17:00
ab 17:00
Einführung in NI VirtualBench
Stefan Albert, National
Instruments Germany GmbH
Schnelle und qualitativ hochwertige
Validierung von Mikrocontrollern
mit NI PXI
Dr. Hans-Georg Häck, Texas
Instruments Deutschland GmbH
Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
LabVIEW Web Services –
Technologie und Anwendung
l
Chris Cilino, National Instruments
Corp.
Gestaltung von Benutzer­
oberflächen in LabVIEW am
Beispiel von Forschungs­
anlagen der chemischen
Verfahrenstechnik
Dominic Zuleger, Christian
Moritz, Zumolab
Get-together mit anschließender Party
NI-VST-basierter UTP 9010
RF-Funktionstester für
Netzwerknoten und Module
bei der Qundis GmbH
Manuel Bogedain, Noffz
ComputerTechnik GmbH
Test nonstop – Entwicklung
und Test parallel von Tag 1 an
Michael Riemer, imbus AG
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Power-Elektronik-Module und
der neue Automotive Standard
LV 324 - Qualifikation von
Leistungshalbleitern für den Einsatz
in Kraftzeugen l
Frank Heidemann, SET GmbH
Record und Playback von
Inertialsignalen mittels
integrierter NI-basierter Inthe-Loop-Testlaborumgebung
für Location-Based Services
Dr. Oliver Michler, FraunhoferInstitut für Verkehrs- und
Infrastruktursysteme IVI
Teststrategien für elektrische
Tests nach LV 124 – Vor­
stellung einer Lösung zur
Qualifikation von Steuer­
geräten nach LV 124 Norm l
Ronald Kaempf, Ralf Zimmermann,
WKS Informatik GmbH
Integrationstests für
Schienenfahrzeuge auf Basis
von LabVIEW
Rainer Arnold, Andreas Rzezacz,
VOITH Engineering Services
GmbH Road & Rail
Improving Embedded
Software Quality by Testing
Early and Often
Nicholas Keel, National
Instruments Corp.
Embedded Control & Monitoring
(Neue Bühne Bruck)
Data Management
(Säulensaal)
Meet the Experts
(Fürstenfelder 2&3)
A Better Approach to
Embedded Systems Design
Asa Kirby, National Instruments
Corp.
Aktives Energiemanagement
eines Holzwerkes mithilfe
von LabVIEW und NI SingleBoard RIOs als Cyber-Physical
Systems
Peter Adelhardt, DATA AHEAD
GmbH, Arthur Naumann,
Holzwerke Bullinger GmbH &
Co.KG
HMI Solutions for Embedded
Systems
Melanie Eisfeld, National
Instruments Germany GmbH
Rettet die Datensilos!
Andreas Haub, National
Instruments Engineering GmbH
& Co. KG
Big Analog Data™
Andreas Haub, National
Instruments Engineering GmbH
& Co. KG
Model-Based Engineering for
RF Applications with the NI
Platform
Benjamin Michel, Thomas Frank,
National Instruments Germany
GmbH, Olivier Pelhatre, AWR
Germany
ISAAK-X Unternehmens­
weite Datenhaltung und
Prüfstandsauswertung
Martin Winkler, measX GmbH &
Co. KG
Meet the LabVIEW Experts
National Instruments and Friends
Modular Software and
Hardware Design for
Systems Microscopy
Dr. Lars Hufnagel, EMBL
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Highlights in DIAdem 2014
Walter Rick, National Instruments
Engineering GmbH & Co. KG
Intelligente eingebettete
MehrkomponentenKraftmessplatte für hoch­
dynamische Überwachungsund Regelungsapplikationen
Oliver Adams, Sascha Kamps,
RWTH Aachen
Seminare
(Saal 5)
Industrielle Bild­verarbeitung
mit dem Vision Builder for
Automated Inspection (VBAI)
Richard Dost, National Instruments
Germany GmbH
Triggern, Takten und
Synchronisieren mit NI
LabVIEW
Gregor Pojda, National Instruments
Germany GmbH
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Einführung in die
objektorientierte
Programmierung mit
LabVIEW l
Dr. Holger Brand, Brand New
Technologies
Erste Schritte mit
NI RIO – FPGA- und
Echtzeitprogrammierung l
Melanie Eisfeld, National
Instruments Germany GmbH
Interaktives Daten­
management und
Berichterstellung mit NI
DIAdem l
Ramona Mathews, National
Instruments Germany GmbH
Einführung in NI Motion l
Melanie Eisfeld, National
Instruments Germany GmbH
Power Electronics Testing
Round Table Controversy
– (Poetry)-Slam
Offene Diskussion
Andreas Stark, National
Instruments Germany GmbH
Smaller Size, Increased
Flexibility: Introducing
NI‘s Newest Board-Level
Embedded Target
Asa Kirby, National Instruments
Corp.
Echtzeit unter Windows mit
DIAdem DAC und EtherCAT
Holger Müller, a-solution GmbH
Auf NI Single-Board RIO
basierendes modulares
Sensor-Aktor-Testsystem
Herbert Pichlik, SYSTEC GmbH,
Bert Walch, Robert Bosch GmbH
ASAM ODS: Experten­systeme
für jedermann mit DIAdem
und DataFinder l
Stefan Romainczyk, National
Instruments Engineering GmbH
& Co. KG
DIAdem 64 bit – Sneak
Preview l
Andrea Perin, National
Instruments Germany GmbH
LabVIEW auf
eigener, vernetzter
Embedded-Hardware
Marco Schmid, Schmid
Elektronik AG
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Workshops
(Saal 6)
l Für Fortgeschrittene l Automotive-Bezug
MITTWOCH
AGENDA | VIP 2014 – Virtuelle Instrumente in der Praxis
9:00 – 10:30
10:30 – 11:00
23. Oktober 2014
Keynote:
Rahman Jamal, Technical & Marketing Director Europe, National Instruments
Daniel Riedelbauch, Marketing Manager Central Europe, National Instruments
Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
LabVIEW Power Programming
(Stadtsaal)
11:00 – 11:30
Strukturierte Software­
entwicklung mithilfe des
SCRUM-Modells l
Julien de Freitas, National
Instruments Switzerland GmbH
11:30 – 12:00
Refactoring von großen
Projekten
Martin Weiss, Carl Zeiss Jena
GmbH
12:00 – 12:30
Bug und Feature Tracking
in LabVIEW durch die
Anbindung von Redmine
Oliver Frank, Jürgen Buhrz,
Helmholtz-Zentrum Geesthacht,
Zentrum für Material- und
Küstenforschung GmbH
Qualitätssicherung durch
Code Review
Norbert Brand, National
Instruments Germany GmbH
12:30 – 13:00
13:00 – 14:00
14:00 – 14:30
14:30 – 15:00
15:00 – 15:30
15:30 – 16:00
16:00 – 16:30
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Entwickeln von Funktionen
für die automatisierte
Erstellung komplexer
Anwendungen mit X-Controls
und VI-Scripting
Ulf-Hendrik Hansen, Die
Messfabrik GmbH
Modularisierung von LabVIEWApplikationen mit Packed
Libraries l
Marco Brauner, National
Instruments Germany GmbH
Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
Datenverwaltung in
großen Anwendungen –
Performanceüberlegungen l
Norbert Brand, Moritz Mayer,
National Instruments Germany
GmbH
16:30 – 17:00
ab 18:00
Hochschulstammtisch
Test & Measurement
(Kleiner Saal)
5 Red Flags to Consider
Before Configuring Your Next
Measurement System
Jim Schwartz, National
Instruments Corp.
Verification & Validation
(Saal 1)
Embedded Control & Monitoring
(Neue Bühne Bruck)
Business Trends
(Säulensaal)
Software-in-the-LoopSimulation mit NI VeriStand
und Visual Studio unter
Verwendung der NI VeriStand
Execution API
Simon Drüke, Fraunhofer-Institut
für Produktionstechnologie IPT,
Christian Scheering, Miele & Cie. KG
Hochdynamische lineare und
nichtlineare Regelung von
Komponentenprüfständen mit
automatisierten Reglerentwurf l
Dr. Jörg Paschedag,
ITK Engineering AG
Unlocking Advanced Features
in Embedded Control and
Monitoring Applications
Alexander Glasner, National
Instruments Germany GmbH
Continuous Improvement
Using Knowledge Creation as
the Foundation
Jim Lance, Continuous Improvement
Manager, National Instruments
Corp.
Einsatz von LabVIEW
und CompactRIO bei
der Entwicklung eines
seegangs­kompensierenden
Hebewerkes
Mark Lautermann, Aker Solutions
Smart Machine Control
for the Manufacturing of
Next-Generation Silicon
Photonics Microchips
Ignazio Piacentini, PI miCos
GmbH
Plug&Play Betriebsstrategie­
integration in Hardware-in-theLoop-Prüfstandssysteme
Jörg Küfen, Forschungs­
gesellschaft Kraftfahrwesen
Aachen mbH
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Das Combined Energy
Lab – Hardware-in-theLoop-Testumgebung für
µKWK-Anlagen
Jens Werner, TU Dresden
Integration eines CompactRIOgesteuerten Anti-IcingSystems in ein Leitsystem der
Windenergie mittels OPC UA
Ingmar Kühl, Nordex Energy GmbH,
Ralf Taraschewski, A.M.S. Software
GmbH
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Business Modelling für
Techies – Hilfestellungen
für einen erfolgreichen
Businessplan
Franz Ostermeier, Projektmanager,
BayBG - Bayerische
Beteiligungsgesellschaft mbH
Innovationen und Trends im
Bereich Automotive Testing
Jürgen Wölfle, Manager Testing
Technology, Conti Temic
microelectronic GmbH
Programmierung eines
MEMS-Mikrofons
Sebastian Walser, Hochschule
München
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Flexibler Prüfstand für die
modellbasierte Entwicklung
hydraulischer Komponenten l
Julius Hudec, Rausch & Pausch
GmbH
Closed-Loop Control and
Real-Time Simulation with NI
VeriStand
Nicholas Keel, National
Instruments Corp.
Introduction to PXI
Travis White, National Instruments
Corp.
Developing Elektra, the EOL
(End-of-Line) Test System for
Automotive Inverter l
Alessandro Andreoli, Loccioni
Deutschland GmbH
Skriptbasierte Automatisierungslösung mit CompactRIO
und NI DIAdem
Holger Müller, a-solution GmbH,
Andreas Gessler, Aventics GmbH
Vereinfachte Definition von
VeriStand-Echtzeitsequenzen
mittels CISWORKSVIPE
Christian Lemp, CISWORKS GmbH
& Co. KG
Hochdynamische Messung
des Innenwiderstands von
Batteriezellen
Martin Brand, Markus Hofmann,
TU München
Testautomatisierung
Scheinwerfersysteme l
Carlos Urquizar, AED Engineering
GmbH
Infinitus – Entwicklung
einer 12 Meter breiten
Druckmaschine
Udo Schwadtke, TU Berlin,
Stephan Cepek, Big Image
Systems
LUVO – Schwingungs­
überwachung an Großlagern
in Kraftwerken
Dr. Joachim Hilsmann, measX GmbH
& Co. KG,
Dr. Bruno van den Heuvel,
RWE Power AG
Schwingungsmessungen in
der Material­qualifizierung für
High-End Hybrid-Wälzlager
Andreas Hergesell, MetaDAQ,
Robert Bachmann, CEROBEAR
GmbH
Prozessregelung und
Leitsystem mit LabVIEW und
dezentralen NI CompactRIOs
Jochen Weber, ProNES
Automation GmbH,
Dr. Gilbert Anderer, AVA Biochem
BSL AG
Automatisierung einer
hydraulischen Richtpresse mit
NI CompactRIO
Norbert Schmotz, Universität
Rostock/FVTR-Rostock GmbH
NI Startup Program
Empowers the First
Highspeed Grain-by-Grain
Sorting Device
David Liechti, Head of
Engineering, QualySense AG
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Meet the Experts
(Fürstenfelder 2&3)
Embedded System Design –
Best Practices and Lessons
Learned
National Instruments and
Partners
Workshops
(Saal 6)
Seminare
(Saal 5)
Textbasierte Programmierung
mit LabWindows/CVI
Aurelie Uturald, National
Instruments Germany GmbH
Softwarevalidierung für
Embedded-Systeme –
Implementierung von EchtzeitTestapplikationen mit NI
VeriStand l
Oleg Scherling, National
Instruments Germany GmbH
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Software-Defined Radio mit
NI USRP l
Alexander Glasner, National
Instruments Germany GmbH
Neuerungen in NI LabVIEW l
Lorenz Casper, National
Instruments Germany GmbH
Interaktives Daten­
management und Bericht­
erstellung mit NI DIAdem l
Jonas Leiter, National
Instruments Germany GmbH
Testmanagement mit NI
TestStand
Aurélie Uturald, National
Instruments Germany GmbH
Best Practices bei der
Datenverwaltung
Anreas Haub, Walter Rick,
Stefan Romainczyk, National
Instruments Engineering GmbH
& Co. KG
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Customer Loyalty – are we
measuring this correctly?
Jim Lance, Continuous Improvement
Manager, National Instruments
Corp.
Build vs. Buy – Chancen
der plattformbasierten
Entwicklung und Herausfor­
derungen bei der Integration
Dr. Wolfram Koerver,
Geschäftsführer, S.E.A.
Datentechnik GmbH
Schlüsselelemente einer erfolgreichen Standardisierung
von Prüfmitteln
Thomas Rönpage, Area Sales
Manager, National Instruments
Germany GmbH
Mitarbeiter motiviert durch
Zeiten des Wandels führen
– Herausforderung für jedes
Unternehmen
André Saller, Area Sales
Manager, National Instruments
Germany GmbH
CLAD-Zertifizierung
l Für Fortgeschrittene l Automotive-Bezug
DONNERSTAG
AGENDA | VIP 2014 – Virtuelle Instrumente in der Praxis | Dozenten- und Ausbildertag
24. Oktober 2014
9:00 – 10:30
10:30 – 11:00
Keynote:
Dave Wilson, Academic Marketing Director, National Instruments
Nikolai Rösch, Academic Program Manager Central Europe, National Instruments
Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
HF-Technologien
Säulensaal
11:00 – 11:30
Radio Data System
Transmission Using
Software-Defined Radios
Matthias Schulz, TU Darmstadt
11:30 – 12:00
Anschauliche Signaltheorie:
Der adaptive Equalizer –
Lineare Verzerrungen
erkennen und nutzen
Prof. Ulrich Mann, Hochschule
Schweinfurt
12:00 – 12:30
12:30 – 13:00
13:00 – 14:00
14:00 – 14:30
Mess- und Regelungstechnik
Säulensaal
Optimierung konventioneller
thermischer Trocknungs­
prozesse von Nahrungsmitteln durch modellbasierte
prädiktive Regler mithilfe von
NI LabVIEW und NI myRIO
Alexander-Nicolai Köhler,
Markus Fischer, Hochschule
Fulda
Advanced-Control-Konzepte
zur Regelung eines rotatorischen inversen Pendels
– Implementierung und Test
auf dem NI-cRIO-System
Prof. Steven Lambeck,
Hochschule Fulda
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Ausbildung und Lehre
Kleiner Saal
NI myRIO – Einführung in
Embedded-Systeme in der
Lehre
Johannes Mutterer, National
Instruments Germany GmbH
LEGO Mindstorms EV3 für die
Ausbildung und Lehre
Karen Schnier, Martin Engels,
LEGO Education Germany
Lehrprojekt LabVIEW
Software-Entwicklung am
Beispiel des Kartenspiels
„MAU-MAU“
Sindy Schmidt, Jan Jens
Koltermann,
TU Cottbus-Senftenberg
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
Mittagspause/
Besuch der Ausstellung
NI myRIO – Steuerung und
Regelung mit dem QUANSER
Qube l
Johannes Mutterer, National
Instruments Germany GmbH
NI Academic Product Line in
der Anwendung
Oleg Scherling, National
Instruments Germany GmbH
Software-Defined Radio mit
NI USRP
Alexander Glasner, National
Instruments Germany GmbH
Schaltungsdesign mit NI
ELVIS, NI Multisim und NI
LabVIEW
Oleg Scherling, National
Instruments Germany GmbH
Implementierung und Vergleich von Bildverarbeitungs­
techniken und -verfahren für
Robot Vision
Prof. Peter Nauth,
Fachhochschule Frankfurt a.M.
15:00 – 15:30
Motion Control System
eines 3-Achs-Roboters für
Pick&Place-Aufgaben
Prof. Ulrich Hoffmann,
Stefan Rößner, Norbert Voß,
Fachhochschule Aachen
15:30 – 16:00
Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
16:00 – 16:30
Mobile Ganganalyse für
Prothesenträger mittels NI
myRIO
Jochen Schuy, TU Darmstadt
Bau eines kugelförmigen
Displays
Lukas Bockstaller, Gewerbliche
Schulen Waldshut Tiengen
16:30 – 17:00
Laborverdampferstrecke
zur mess- und regelungs­
technischen Konzeptvalidierung und Integration in die
Lehre
Andreas Kohlhepp, TU München
LabVIEW-Programmierung
einer verfahrenstechnischen
Durchfluss- und Regelanlage
für die Ausbildung
Dr. Hans Schneider, IPI Ing.-Büro
für Prozessinformatik, Elfi Büttner,
Oberstufenzentrum Lausitz
Ende des Dozenten- und Ausbildertags
Seminare
Saal 1
Lernen durch Erfahren –
Vermittlung messtechnischer
Grundlagen an der TU
Darmstadt mithilfe der
NI-myRIO-Plattform
Dr. Jann Neumann, TU
Darmstadt
Futur[e]Ing. – Pilotversuch zu
einem neuen Studiengangs­
konzept mit LabVIEW
als fachübergreifende
Modellierungs- und
Entwicklungsplattform
Prof. Norbert Dahmen, Prof. Jost
Göttert, Hochschule Niederrhein
Praktikum Echtzeitprozess­
steuerung mit NI LabVIEW
und NI myDAQ
Dr. Oswald Kowalski, TU Ilmenau
14:30 – 15:00
17:00
Workshops
Saal 6
Falten, filtern, korrelieren:
Signalverarbeitung mit
LabVIEW in Hörsaal­
experimenten erlebbar
machen
Prof. Georg Eggers, Hochschule
München
Konzeption und Entwicklung
eines Laborprüfplatzes zur
Untersuchung von piezoelektrischen Mikropumpen
Ulrich Dahmen, Hochschule
Niederrhein
l Für Fortgeschrittene
FREITAG
Document
Kategorie
Automobil
Seitenansichten
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